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    HS-LDTS2000LD芯片測試設備-常溫-高溫

    LD芯片測試設備(常高溫)

    HS-LDTS2000型 LD Chip Tester測試機是LD芯片電氣和光學特性自動測試、判定及分選的高速雙溫測試機。溫控系統采用高效TEC,實現快速升溫及降溫,可滿足在+20℃至+95℃范圍內測試。采用大光敏面PD探測器進行光功率數據的采樣轉換,測試數據的再現性和重復性穩定可靠、數據準確。

    特點:

    ※   測試速度快:循環交替測試、提高工作效率,測試時間≤5.5秒/每顆。

    ※   溫度控制精度高、速度快:在+20℃~+95℃范圍內控溫速率≤5分鐘,溫控精度±0.5℃。

    ※   先進測試技術:搭載自研高速LIV測試系統,實現高速前光和背光LIV同步高效測試。

    ※   收納載盤多樣化:6寸藍膜盤及2寸 Gel-Pack。

    ※   光譜儀任選:橫河(YOKOGAWA)系列/安立(Anritsu)系列的光譜儀均可選擇使用。

     

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